康派斯技术覆盖上千检测指标,覆盖42个领域600+产品。端到端供应链解决方案全方位多维度产品测试,从检测需求分析到检测报告应用全流程技术支持,同时整合全行业资源,在周期、费用、实力方面,为您提供最优解。
检测技术
- 拉伸试验(TS)
- 膨胀扩张测量法(Dilatomet
- 激光衍射法(LDPS)
- 光学轮廓测量(OP)
- X射线反射率(XRR)
- 通过AC-STEM-EDS定量超薄层
- 通过拉曼光谱测量半导体
- 电化学分析(EA)
- 紫外/可见光/近红外光谱
- 表面积和孔径测定(BET-DF
- 22纳米鳍式场效应晶体管
- 电子故障分析
- 滴定法(MATI)
- X射线实时成像(RTX)
- X射线衍射(XRD)
- 锂离子电池电极的研究
- 纳米压痕(NI)
- 电感耦合等离子体发射光
- 通过热解吸GC-MS分析污染物
- 痕量微量元素分析
- 表面污染测量的整体解决
- 材料测试分析鉴定
- 石墨炉原子吸收光谱法(
- 扫描声学显微镜(SAM)
- 产品可靠性测试(ORT)
- 离子色谱(IC)
- 气相色谱法(GC)
- 基质辅助激光解吸/电离
- 接触角和液滴形状测量(
- 纳米尺度PED的材料结构分
- 电子束感应电流(EBIC)
- 傅里叶变换红外光谱(FTI
- 进动电子衍射(PED)
- 微发光二极管分析
- 破坏性物理分析(DPA)
- 材料表征分析
- 化学分析
- 用于材料除气表征的逸出
- 阴极荧光光谱/阴极发光扫
- 机加工零件的光学轮廓测
- 扫描透射电子显微镜(TEM
- 张力测量法(TSM)
- 差分霍尔效应计量(DHEM)
- 比色法(CM)
- 凝胶渗透色谱(GPC)
- 污染物识别
- 旋转流变学测试(Rheology)
- 材料失效分析
- 电感耦合等离子体(ICP)
- 纤维素生物膜的流体成像
- 表面改性聚合物的FTIR和接
- 折射仪折光仪测试(RM)
- 翘曲分析
- 原子力显微镜聚合物表面
- 固体和液体的密度测定(
- 热重-差热分析(TG-DTA)
- 气相色谱-质谱(GC-MS)
- 发射率/热辐射比(EV)
- 激光诱导击穿光谱(LIBS)
- 盐雾喷雾测试(SM)
- 热机械分析(TMA)
- 差示扫描量热法(DSC)
- 聚焦离子双光束(FIB)
- 核磁共振光谱(NMR)
- ICP-OES和ICP-MS检测指南
- 残余气体分析(RGA)
- 球差校正扫描透射电子显
- 卢瑟福背散射光谱法(RBS
- 冲击测试(Impact)
- 表面分析
- AFM的生物医学应用:成像
- 热解气相色谱/质谱(GC-MS
- 热重分析(TGA)
- X射线荧光(XRF)
- 电热汽化ICP光学发射光谱
- 镀层分析
- 动态力学分析(DMA)
- 粘度测试(Viscosity)
- 能量色散X射线光谱(EDS)
- 理化性能测试(SGMS)
- 全反射X射线荧光(TXRF)
- 热重法逸出气体分析(TG/
- 高分辨率质谱(HRMS)
- 液相色谱质谱(LC-MS)
- 气相色谱-串联质谱(GC-MS
- 高加速寿命测试(HALT-MEOS
- 俄歇电子能谱(AES/Auger)
- 低温透射电子显微镜(TEM
- 仪器气体分析(IGA)
- 扫描电子显微镜(SEM)
- 原子力显微镜(AFM)
- 核反应分析(NRA)
- 原子探针断层扫描(APT)
- 辉光放电质谱(GDMS)
- 电感耦合等离子体质谱(
- 电子能量损失谱(EELS)
- 二次离子质谱(SIMS)
- 薄层色谱(TLC)
- 逸出气体分析(EGA)
- 飞行时间二次离子质谱(
- X射线光电子能谱XPS光谱
- 高效液相色谱(HPLC)
- 氢前向散射光谱(HFS)
- 粒子诱导的X射线发射(PI
- 空气喷射筛(AJS)
- 椭圆偏振光谱法(SE)
- 电子背向散射衍射(EBSD)
- 激光剥蚀电感耦合等离子
- 拉曼光谱法(Raman)
- 腐蚀测试(NSS)