激光剥蚀电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）是一种分析技术，它使用直接微观尺度采样来提供固体材料的高精度元素和稳定同位素分析。

LA-ICP-MS 使用强大的纳秒脉冲激光束去除样品表面的材料。激光和样品表面的相互作用导致样品材料的加热、蒸发和电离，这个过程称为“激光剥蚀”。产生颗粒和离子羽流，然后通过恒定的氩气和/或氦气流输送到ICP-MS。

样品材料随后在电感耦合等离子体中电离，其原子种类以离子形式传输，根据其随时间推移的质荷比进行分离和分析。因此，LA-ICP-MS 可以在样品中提供主要和痕量元素组成，检测限低至 10 亿分之一 （ppb）。

LA-ICP-MS 被认为用途广泛，因为无需任何制备即可对许多固体材料进行分析。根据分析测量系统的不同，非常小的样品量（皮克到飞克）可能足以进行高灵敏度（十亿分之一）的调查分析。ICP-MS的传统液体方法需要毫克级的样品质量才能达到这种灵敏度。提供一系列激光光斑直径 （5-200 μm），允许在最大表面积为 10 cm ²的光斑和线采样阵列。

 

LA-ICP-MS理想用途

• 调查固体的化学分析
• 可追溯性（证明来源）分析
• 元素或稳定同位素分布分析
• 局部夹杂物和缺陷分析
• 深度特异性多元素化学检测

LA-ICP-MS优势强项

• 在同一分析过程中可以测量痕量元素、次要元素和主要元素
• 微量分析技术：常规消融尺寸为 200 – 40 μm 的样品特征，而在某些情况下可以分析小至 5 μm 的特征
• 根据需要提供定性、半定量或完全定量的数据
• 不受样品电导率、真空稳定性、无机/有机成分或光学透明度/不透明度的限制
• 快速 – 无需化学制备，清洁 – 减少污染机会，绿色 – 不产生危险废物，使用的耗材最少
• 避免了酸试剂引起的多原子干扰和稀酸溶液中某些元素不稳定引起的问题

LA-ICP-MS缺点限制

• 需要与基质匹配的可靠参比物质进行定量分析
• 不可测量：不稳定的放射性同位素、H、N、O、F 和惰性气体
• 大多数样本都无法添加用于数据归一化的内标元素;大多数定量分析都需要通过二次技术或伪内标（如金溅射镀膜）测量的基质元素
• 大和/或不规则样品可能需要机械制备才能适应激光单元
• 对于大多数应用，需要样品在室温下稳定且不含液体

LA-ICP-MS技术规格

• 检测到的物种：稳定同位素的正离子
• 灵敏度：十亿分之一 （ppbw）
• 深度分辨率：0.1 – 1 μm
• 典型光斑尺寸：5 – 200 μm

LA-ICP-MS相关资源

• 网络研讨会：LA-ICP-MS

您也可以致电400-9621-929与我们联系或填写下方表格，让专家工程师和您讨论具体的需求。