同步辐射吸收谱(XAFS)

X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS),也叫X射线吸收谱(X-ray absorption spectroscopy,XAS),是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域,主要有以下优点:

1.不依赖于长程有序结构,可用于非晶态材料的研究;

2.不受其它元素干扰,可对同一材料中不同元素分别研究;

3.不受样品状态影响,可测量固体(晶体、粉末),液体(溶液、熔融态)和气体等;

4.对样品无破坏,可进行原位测试;

5.能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数,一般认为原子间距精确度可达0.01Å。

 

XAFS数据解析可提供以下数据及服务:

1.XANES部分图谱,提供价态、初步结构的定性分析;

2.EXAFS拟合,提供配位原子种类、配位数和键长信息,以及简单的、从物理角度对谱的分析;

3.wavelet图谱,作为EXAFS拟合的进一步证据;

样品要求

1.粉末样品至少80-100mg(0.8-1.0ml体积量最好),越细越好,最好能过200目筛子,400目更好,一般研磨20min左右,

软线测试样品需不含油污、溶剂等成分;

2.粉末压片尺寸要求:直径大于6mm的圆形,厚度1mm左右;

3.块体样品要求测试面光滑,大小不超过5*5*5mm;

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