透射电镜(TEM)

低温透射电子显微镜Cryo-TEM涉及进行透射电子显微镜TEM分析,同时将样品保持在低温温度,即-170℃(或103 K)。

透射电子显微镜(TEM)是一种使用电子束对样品进行成像的技术。 高能电子 (80-200 keV) 通过电子透明样品(~100 nm 厚)传输并在平面上成像。

冷冻透射电镜涉及执行透射电子显微镜TEM分析,同时将样品保持在低温下,即 -170°C(或 103 K)。

使用低温的主要原因是:

  • 研究薄的冷冻悬浮液切片,允许对处于分散状态的颗粒进行形态学研究。
  • 减少电子束对样品的加热,从而减少敏感材料的潜在束损伤
  • 晶体材料低温相的研究

使用 Vitrobot ™ 样品制备工具、专用的冷冻样品转移装置和冷冻透射电镜样品架,可生产薄片 (~100 nm) 冷冻水分散体(“玻化冰层”)。

TEM理想用途

  • 脂质体,聚合物囊泡,乳液的胶体分散体
  • 分散体中粒子聚集的研究
  • 电子束敏感样品
  • 低温晶相研究

TEM优势强项

  • 允许在水分散体中对近乎自然状态的软物质进行成像
  • 允许对光束过于敏感的材料进行成像

TEM缺点限制

  • 水性分散体的样品制备需要针对不同的样品类型进行方法开发,因为它非常依赖于颗粒浓度、粒度和材料粘度
  • 玻璃化冰层的样品厚度由粒径决定。因此,样品的透明度将粒径限制在几百纳米
  • 能量色散X射线光谱(EDS)分析的分析时间受到限制,因为即使在低温下,光束也会诱导冻结水层升华

TEM技术指标

  • 检测到的信号: 传输电子
  • 检测到的元素: B-U(含EDS)
  • 检测限: 1 at%
  • 成像/映射: 是(使用EDS)

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