• 康斯派诚邀您参与2021世环会
    检测环境与机械可靠性
    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    康斯派诚邀您参与2021世环会直播及研讨会

    线下活动 | 康斯派诚邀您参与2021世环会 2021世环会【国际环保展】将于6月2日 - 4日在上海国家会展中心举办。作为国际公认的检验、鉴定、测试和认证机构。在此,我们诚挚地邀请您参观指导! 展会信息 时间: 2021年6月2-4日 地点: 国家会展中心(虹桥) 参展服务 -现场采样与实验室检测服务: 康派斯实验室具备CMA认证、ISO 17025(CNAS)认可、美国工业卫生协会工业卫生实验室(

  • 节能低碳十四五规划助力企业率先“碳达峰”
    检测物理性能测试
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    节能低碳十四五规划助力企业率先“碳达峰”直播及研讨会

    全国各省市的十四五节能规划工作已陆续启动,部分重点碳排放控排企业不仅要做好节能,还要考虑降低碳排放,节能规划做不好,还可能会下达惩罚性目标,影响企业正常发展。

  • 2021新版安全生产法修订解读
    检测失效分析及其他
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    2021新版安全生产法修订解读直播及研讨会

    2021新版安全生产法修订解读 9月1日起,已正式实施新版《中华人民共和国安全生产法》 。 为加强安全生产工作,防止和减少生产安全事故,保障人民群众生命和财产安全,促进经济社会持续健康发展,制定本法。本次修改于2021年6月10日,中华人民共和国第十三届全国人民代表大会常务委员会第二十九次会议通过。 这次修改决定约占原来条款的1/3,除内容修改较多外,新法对企

  • 气体分析和泄露测试网络研讨会
    检测
    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    气体分析和泄露测试网络研讨会直播及研讨会

    残余气体分析(RGA),也称为内部蒸汽分析(IVA),是一种用于测试电子设备内部气体成分的技术,重点是水分含量。半导体、微电子、心脏起搏器或人工耳蜗等电子设备可以固定在 RGA 仪器上。该测试技术是遵循MIL-STD 883 TM 1018的军事和航空航天工业可靠性测试的黄金标准。美国只有 2 家公司经过美国国防后勤局的认证来执行此测试。 逸出气体分析 (EGA) 是一种在室温以上加热

  • IGA 网络研讨会
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    仪器气体分析 (IGA) 测量固体材料中存在的气体形成元素(C、H、O、N 和 S),从 ppm 到百分比水平。高温炉用于快速或温度阶梯加热样品,从而将某些元素转化为挥发性形式,以便分离、检测和测量它们。 碳和硫以 CO 为单位测量2所以2基于仪器气体分析期间的燃烧和红外检测。氮气、氧气和氢气使用惰性气体融合或固体载气热萃取测量为 N2、CO/CO2和 H2分别。对于金属和合金,我

  • 气相色谱-质谱网络研讨会
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    气相色谱-质谱网络研讨会直播及研讨会

    气相色谱-质谱(GC-MS) 是一种分析技术,它允许通过结合气相色谱法分离化学混合物和质谱法来鉴定组分来鉴定特定分子。这使得复杂基质的分离能够识别痕量差异和潜在的目标化合物。GC-MS分析可以对液体、气体或固体进行,以检测挥发性或半挥发性物质。最常见的检测分析是通过直接注入液体或气体。但是,康派斯配备了允许通过溶剂萃取,除气(热解吸)或热解来分析固体

  • ICP-OES 网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    ICP-OES 网络研讨会直播及研讨会

    本次网络研讨会将重点介绍电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS) 。 基于电感耦合等离子体 (ICP) 的分析技术可定量分析各种样品类型的大块元素组成,包括粉末、固体、液体和悬浮液。固体样品通常使用样品消解策略的组合进行溶解或消解。 ICP-MS对多种元素具有高灵敏度,因此在定量测定痕量元素方面特别强大。ICP-OES对于复杂样品基质中主

  • FIB网络研讨会
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    FIB网络研讨会直播及研讨会

    近年来,随着半导体材料科学中功能单元的尺寸越来越小,高质量的失效分析技术变得越来越重要。先进的聚焦离子束 - 扫描电子显微镜(FIB-SEM)技术可以提供精确的横截面成像分析以及高质量的TEM样品制备。此外,还开发了Cryo载物台,基于iFast的软件等功能部件,以满足在正常条件下难以分析的各种材料和结构的需求。 在本次网络研讨会中,我们将讨论用于横截面成像故障分

  • 透射电镜网络研讨会
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    透射电镜网络研讨会直播及研讨会

    近年来,新技术和新产业不断涌现,例如面部识别、自动驾驶、虚拟现实、5G通信等。 对于工程师来说,这些引人入胜的技术通常与FinFET,VCSEL,III / V化合物半导体产生共鸣;而对于电子显微镜学家来说,这些表明异质外延,立方和六边形晶格,以及通常具有复杂3D结构的设备中的相关故障。 在本次网络研讨会中,我们将介绍 透射电子显微镜(TEM) 的基本原理,重点是解决现实世

  • LA-ICP-MS 网络研讨会
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    LA-ICP-MS 网络研讨会直播及研讨会

    在本次网络研讨会中,我们将重点介绍激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)。 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)是一种用于直接元素和同位素分析的微量分析技术。在 LA-ICP-MS 中,使用脉冲激光从固体样品中去除材料;烧蚀的材料通过载气扫入ICP-MS。这与更常见的溶液ICP-MS形成鲜明对比,其中液体样品通过雾化器雾化以促进引入质谱仪。 LA-ICP-MS 能够测量痕量、微量

  • 表面分析网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    表面分析网络研讨会直播及研讨会

    在康派斯提供的所有分析技术中,有一些因其极其表面敏感的分析能力而备受推崇。XPS,俄歇和TOF-SIMS通常用于了解样品表面顶部几纳米的化学性质。表面化学影响多种性能,包括附着力、润湿性、外观、清洁度等。 这些技术已经找到了广泛的实用性,我们将介绍的案例研究就是一个例子。将讨论每种技术在分析问题解决方面的优势。 在本次网络研讨会中,我们将介绍: 表面分

  • 高速I/O测试网络研讨会
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    高速I/O测试网络研讨会直播及研讨会

    在本次网络研讨会中,我们将介绍高速I/O测试,以验证器件从表征到生产的整个过程。 随着互联网数据带宽的不断增加;半导体公司正在开发更高速的设备并将其推向市场,以支持更高的带宽要求。这些设备用于数据速率高达 112Gbps 的网络基础设施、云计算和人工智能设备。这些高速器件给半导体测试工程师带来了新的挑战,需要在表征和生产中验证这些器件。康派斯最近安装了

  • 卢瑟福背散射光谱法网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    卢瑟福背散射光谱法网络研讨会直播及研讨会

    卢瑟福背散射光谱法(RBS) 是一种薄膜分析技术,通过用能量为几MeV的单能离子束轰击样品来进行。所得背散射离子用于确定薄膜和薄膜结构的基质组成和厚度。RBS的独特之处在于,无需标准品即可定量准确,可以执行无损深度剖析,并且可以测量样品中的氢含量,以及元素周期表的几乎所有元素。 在本次网络研讨会中,我们将介绍: 技术原理 常见用途 样品要求 几个真实世界

  • FTIR和Raman网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    FTIR和Raman网络研讨会直播及研讨会

    傅里叶变换红外(FTIR) 和 拉曼 光谱是表征有机和无机材料的重要工具。虽然两者都使用光来阐明分子结构,但这两种技术在光谱学上非常不同,并且通常提供互补类型的信息。例如,当通过两种技术检查蓝色棉纤维时,FTIR将检测纤维素材料,而拉曼将主要检测酞菁染料。 本次网络研讨会比较了这两种技术,并展示了它们在确定各种材料成分方面的实用性,而无需进行大量的样

  • 阴极发光扫描电子显微镜网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    阴极发光扫描电子显微镜网络研讨会直播及研讨会

    SEM-CL是一种强大的工具,用于检查空间分辨率低于光波长的材料的结构和光学特性。SEM空间分辨率在nm量级,而CL空间分辨率可以高达20nm。然后,信号采集的这种高空间分辨率可以与发射光的高光谱分辨率(波长亚纳米)相结合,以确定各种材料特性,例如成分、晶体缺陷和类型、应变,甚至定性和定量的掺杂浓度。随着离散设备变得越来越小,这种高度本地化的分析正迅速成为

  • 微电子元件产品认证网络研讨会
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    微电子元件产品认证网络研讨会直播及研讨会

    我的产品今天有效,明天会同样起作用吗? 微电子无处不在,我们继续为几乎触及我们生活方方面面的产品添加越来越多的电子内容。现在比以往任何时候都更重要的是,了解和考虑我们在这个微电子时代所依赖的技术的组件可靠性方面。微处理器和传感器等组件是我们微电子世界的基本组成部分,当我们将它们集成到我们的移动设备、汽车和整个基础设施中时,我们需要确保

  • EBSD网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    EBSD网络研讨会直播及研讨会

    本次网络研讨会将重点关注 电子背散射衍射(EBSD) 。 EBSD是材料表征领域的一种快速发展的技术。该技术提供介观尺度的微观结构信息,包括晶粒尺寸、晶体取向、晶界、位错和相识别,所有这些都有助于器件性能和可靠性。 受益于EBSD分析的典型组件包括焊盘、焊点、细线和电容器。 电子通道对比成像(ECCI)是EBSD的一种衍生技术,可定量测量单晶的缺陷密度。扫描区域约为

  • SEM-EDS 网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    SEM-EDS 网络研讨会直播及研讨会

    能量色散X射线光谱(EDS) 是一种强大的分析技术,通常用于各种材料的半定量元素分析。它通常与 扫描电子显微镜(SEM) 配合使用,在故障分析过程中提供了不可或缺的第一眼技术。凭借其相对快速的数据采集、出色的光斑尺寸和元素周期表EDS的近乎完整的覆盖范围,为各种材料提供了广泛的适用性。但是什么时候EDS还不够?在 SMART 图表网络研讨会系列的本次迭代中,我们将

  • 辉光放电质谱(GDMS)网络研讨会
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    辉光放电质谱(GDMS)网络研讨会直播及研讨会

    真正的材料并不纯净!它们含有天然元素的各种杂质。杂质的类型、浓度和空间分布是许多先进技术特别关注的问题。这些技术和工业的成功依赖于高纯度原料(例如,99.995%+)和无污染的加工和工程。 作为第三方材料测试服务的全球领导者,康派斯正在发起一系列专注于纯度测定和痕量分析的讲座。我们的讲座将讨论使用固体采样技术和基于溶液的采样技术的痕量分析,包括

  • EDS和EELS网络研讨会
    检测
    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    EDS和EELS网络研讨会直播及研讨会

    能量色散X射线光谱(EDS) 和 电子能量损失光谱(EELS) 是强大的分析技术,通常用于各种材料的半定量元素分析。当与 透射电子显微镜(TEM) 配对时,它们提供纳米级甚至原子级的直接观察材料元素分布,在物联网、面部识别、3G通信等新兴技术中日益复杂的5D结构中闪耀着众多应用。在本次网络研讨会中,我们将介绍基于 TEM 的 EDS 和 EELS的基础知识、它们各自的优势和局限性

  • 气体分析和泄漏测试网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    气体分析和泄漏测试网络研讨会直播及研讨会

    残余气体分析(RGA),也称为内部蒸汽分析(IVA),是一种用于测试电子设备内部气体成分的技术,重点是水分含量。半导体、微电子、心脏起搏器或人工耳蜗等电子设备可以固定在 RGA 仪器上。该测试技术是遵循MIL-STD 883 TM 1018的军事和航空航天工业可靠性测试的黄金标准。美国只有 2 家公司经过美国国防后勤局的认证来执行此测试。 逸出气体分析 (EGA) 是一种在室温以上加热

  • 纳米压痕网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    纳米压痕网络研讨会直播及研讨会

    为了了解固体结构在外部机械载荷条件下的行为,了解其成分的机械性能非常重要。进行机械测试以获得这些,虽然这在宏观上主要是通过拉伸,弯曲,压缩或声学测试来完成的,但传统宏观方法的缩放能力是有限的。 纳米压痕 是一种强大的技术,可以克服这一障碍,能够以高深度和空间分辨率、高通量和最少的样品制备来测量弹性、塑料、脆性特性。该原理基于连续和准确的

  • TXRF 网络研讨会
    检测
    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    TXRF 网络研讨会直播及研讨会

    全反射X射线荧光(TXRF) 是一种无损元素调查技术,用于量化半导体晶片和薄膜的微量表面污染。TXRF是一种能量色散XRF,它使用非常浅的入射角(通常小于0.05)来探测光滑反射表面的顶部~50。 该技术利用不同能量的多个X射线激发源来量化从Na到U的各种元素。对于1厘米的分析点,TXRF的最大优势之一是能够绘制晶圆整个表面上污染物的空间分布图。 本次网络研讨会旨在概述与半

  • AFM和OP网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    AFM和OP网络研讨会直播及研讨会

    与康派斯的许多分析技术不同, 原子力显微镜(AFM) 和 光学轮廓测量法(OP) 不测量化学成分。相反,它们提供显示地形和纹理的表面的 3D 图像,并可以确定粗糙度统计数据和关键尺寸。表征表面粗糙度非常重要,因为它会影响材料的性能和功能、外观和触感。此外,AFM可以提供比标准形貌成像更多的功能。使用专用探头和传感器,可以绘制各种电气和物理特性(例如掺杂剂

  • 电子显微镜在锂离子电池中的应用网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    电子显微镜在锂离子电池中的应用网络研讨会直播及研讨会

    在本次网络研讨会中,我们将介绍电子显微镜在锂离子电池中的应用,从微米级到原子级。 锂离子电池通过为手机、笔记本电脑和电动汽车等供电,已成为我们日常生活中不可或缺的一部分。基本理解结构-性能-性能关系对于开发高性能锂离子电池并克服其退化至关重要。当与 能量色散X射线光谱(EDS) 和电子 能量损失光谱(EELS) 结合使用时,像差校正扫描/透射电子显微镜(

  • SEM-EDS网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    SEM-EDS网络研讨会直播及研讨会

    能量色散X射线光谱(EDS) 是一种强大的分析技术,通常用于各种材料的半定量元素分析。它通常与 扫描电子显微镜(SEM) 配合使用,在故障分析过程中提供了不可或缺的第一眼技术。凭借其相对快速的数据采集、出色的光斑尺寸和元素周期表EDS的近乎完整的覆盖范围,为各种材料提供了广泛的适用性。但是什么时候EDS还不够?在 SMART 图表网络研讨会系列的本次迭代中,我们将

  • 椭圆偏振网络研讨会
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    3-7个工作日 CMA、CNAS 样品寄送+现场取样

    椭圆偏振网络研讨会直播及研讨会

    椭圆偏振光谱法(SE) 是一种强大的分析工具,用于表征许多材料中的薄膜,包括半导体、介电薄膜、金属和聚合物。SE是一种非接触式、非破坏性光学技术,可测量反射光或透射光在与样品相互作用后的偏振变化。这种偏振变化与材料性能有关。 椭圆偏振法主要用于测量薄膜厚度、折射率 (n) 和消光系数 (k),但也可用于研究影响光偏振的其他特性,例如粗糙度、光学各向

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