阴极发光扫描电子显微镜网络研讨会

SEM-CL是一种强大的工具,用于检查空间分辨率低于光波长的材料的结构和光学特性。SEM空间分辨率在nm量级,而CL空间分辨率可以高达20nm。然后,信号采集的这种高空间分辨率可以与发射光的高光谱分辨率(波长亚纳米)相结合,以确定各种材料特性,例如成分、晶体缺陷和类型、应变,甚至定性和定量的掺杂浓度。随着离散设备变得越来越小,这种高度本地化的分析正迅速成为

阅读:26611+ 时间:2023-04-11 源于:93 作者:ccpst 电话:400-9621-929

SEM-CL是一种强大的工具,用于检查空间分辨率低于光波长的材料的结构和光学特性。SEM空间分辨率在nm量级,而CL空间分辨率可以高达20nm。然后,信号采集的这种高空间分辨率可以与发射光的高光谱分辨率(波长亚纳米)相结合,以确定各种材料特性,例如成分、晶体缺陷和类型、应变,甚至定性和定量的掺杂浓度。随着离散设备变得越来越小,这种高度本地化的分析正迅速成为一种必需品,以至于其他标准技术(如SIMS)不再可行。

在本次网络研讨会中,我们将介绍:

  • SEM-CL 测量的基础知识
  • 介绍康派斯提供的最先进的SEM-CL设备
  • 当前应用示例
  • 将 SEM-CL 与 STEM 数据相结合

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